透射电子显微镜（TEM）是以极短波长的电子束作为 照明源，经由聚光镜系统的电磁透镜将其聚焦成一束近似 平行的光线穿透样品，再经成像系统的电磁透镜成像和放 大，最后投射到荧光屏上形成所观察的图像。场发射透射 电子显微镜可对材料特别是纳米材料内部微结构和粒径进 行观察，同时可提供选区电子衍射和晶体结构分析，配合 能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及元素定性和半 定量微区分析。广泛应用于催化剂、金属、矿物、陶瓷、 高分子材料的微观形貌、晶体结构、晶体缺陷及成分分 析。
54-E141-142
JEM-F200
日本电子
加速电压：200 KV；
点分辨率：≤ 0.19 nm；
线分辨率：≤ 0.10 nm；
STEM明场/暗场分辨率：≤0.16 nm@200KV
≤0.31 nm@80KV
能谱仪能量分辨率：≤ 130 eV；
倾斜角：≤25°；
数字化成像系统：4K*4K像素。
1.四级聚光镜系统，实现束斑尺寸和会聚角度的单独控制；
2.可伸缩式超大面积的无窗电制冷能谱，实现元素分析的高精度和高速度完美结合；
3.独有的自动进样系统，实现自动插入和拔出样品杆；
4.配备STEM探头和二次电子探头，可同时获得明场像、暗场像、二次电子像；
5.结合STEM可进行面扫描、线扫描分析；
6.配备选区光阑，可获得选区电子衍射。
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