原子力显微镜（AFM）-天津大学化工学院

原子力显微镜（AFM）

介绍：

原子力显微镜通过可视化获得样品的表面形貌或结构特征研究材料纳米尺度上各类特性。当探针针尖接近试样表面或与试样表面相接触时，针尖端头原子与试样表面间存在的微弱作用力将使微悬臂发生相应的微小弹性形变，从而可以直接研究材料表面局域性质。

仪器位置：

54-E156

型号：

Dimension icon

厂家：

Bruker

配置及技术参数
功能及应用

XY方向扫描范围：90 μm x 90 μm

Z方向扫描范围：10 μm

纵向噪音水平：<30 pm RMS样品尺寸和固定方式：样品尺寸可达直径210 mm，厚度15 mm

光学系统：500万像素相机，180μm~1465μm视场范围

扫描模式：ScanAsyst，PFM，EFM，MFM，KFM，PeakForce QNM，PeakForce KPFM，Scanning in Fluid，Nanolithography

温度控制：-35 ℃-250 ℃

AFM能给出从纳米级到微米级尺寸区域的表面结构高分辨像，能够显示表面形态结构单元，而且测试可以对试样在大气或液体环境下对试样进行原位监测，用于材料表面微观粗糙度的高精度和高灵敏度的定性和定量分析，能观测到表面物质的组分分布、高聚物的单个大分子、晶粒和层状结构以及微相分离等材料微观结构。AFM也可用于表征固体物质表面局部微小区域的力学和其他物理性质。

科学研究

原子力显微镜（AFM）

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