环境控制型原子力显微镜 (Environmental-control AFM)-天津大学化工学院

介绍：

原子力显微镜通过可视化获得样品的表面形貌或结构特征研究材料纳米尺度上各类特性。当探针针尖接近试样表面或与试样表面相接触时，针尖端头原子与试样表面间存在的微弱作用力将使微悬臂发生相应的微小弹性形变，从而可以直接研究材料表面局域性质。

仪器位置：

54-E155

型号：

Cypher ES

厂家：

Oxford

扫描范围: XY轴30 μm，Z轴5 μm

噪音：X,Y轴闭环噪音<60 pm，Z轴闭环噪音<50 pm，X,Y轴开环噪音<10 pm，Z轴开环噪音<5 pm

线扫描速度：最高可不低于40 Hz一体化密封环境控制样品腔：环境控制腔能够耐酸、碱、溶剂、缓冲溶液和惰性气体

扫描模式：轻敲模式、接触模式、定量相位成像模式、扫描开尔文显微镜、静电力显微镜，磁力显微镜、压电力显微镜、力曲线模式、双频高次谐波成像模式、纳米操纵、纳米刻蚀、电化学原子力显微镜

可实现液体环境、气体环境和温度变化条件下对各类材料的微纳尺度性质和结构观察和分析。广泛应用于各种材料，例如二维材料、陶瓷、金属、不导电材料、半导体器件、生物样品、磁性样品等的高分辨观察。