X射线吸收精细结构谱仪用于样品的X射线吸收精（X-RayAborption Fine Structure, XAFS）光谱测试。X射线吸收精细结构光谱是指在原子芯电子吸收X射线的特征边附近的高分辨谱，主要用于分析功能材料的核心原子的价态、能级结构、配位键类型与键长、配位原子种类及数量等。 XAFS通常分为近边吸收（XANES）以及扩展边吸收（EXAFS）两个区域，前者主要表征元素种类和价态、轨道杂化情况等，后者主要表征核心元素原子与周边原子的配位关系。
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JTable XAFS-500-A
安徽创谱仪器科技有限公司
能量范围：4.5~ 20 keV
能量分辨率：0.5 ~ 3 eV（7~9keV，近边）
X射线光源：1.2 kW X射线光管
光通量：200000 ~1000000 photons/sec @ 9keV
单色器晶体：口径100mm，半径500mm球面Si或Ge弯晶
探测器：SDD探测器
可测试元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、P
新能源：锂电池及其他二次电池材料研究、燃料电池研究、储氢材料研究、光合作用与碳捕获。通过XAFS可获得核心原子在充放电循环及电化学反应过程中的浓度、价态、配位环境及其动态变化。催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等，以及含量极低的金属离子的近邻结构。材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究，放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。
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