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多功能X射线吸收精细结构谱仪(XAFS)

介绍:

X射线吸收精细结构谱仪用于样品的X射线吸收精(X-RayAborption Fine Structure, XAFS)光谱测试。X射线吸收精细结构光谱是指在原子芯电子吸收X射线的特征边附近的高分辨谱,主要用于分析功能材料的核心原子的价态、能级结构、配位键类型与键长、配位原子种类及数量等。 XAFS通常分为近边吸收(XANES)以及扩展边吸收(EXAFS)两个区域,前者主要表征元素种类和价态、轨道杂化情况等,后者主要表征核心元素原子与周边原子的配位关系。

仪器位置:

54-E113

型号:

JTable XAFS-500-A

厂家:

安徽创谱仪器科技有限公司

能量范围:4.5~ 20 keV

能量分辨率:0.5 ~ 3 eV(7~9keV,近边)

X射线光源:1.2 kW X射线光管

光通量:200000 ~1000000 photons/sec @ 9keV

单色器晶体:口径100mm,半径500mm球面Si或Ge弯晶

探测器:SDD探测器

可测试元素:Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、P

新能源:锂电池及其他二次电池材料研究、燃料电池研究、储氢材料研究、光合作用与碳捕获。通过XAFS可获得核心原子在充放电循环及电化学反应过程中的浓度、价态、配位环境及其动态变化。催化:纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS获得催化剂在载体上存在的形态,与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等,以及含量极低的金属离子的近邻结构。材料科学:用于各种材料表征,复杂体系和无序结构材料的研究,放射性核素研究,表面、界面材料的相关性质研究,材料的动态变化过程研究。