X射线光电子能谱仪（XPS）-天津大学化工学院

介绍：

X射线光电子能谱可将X射线辐射到样品表面，激发出光电子，通过检测光电子动能得到元素内层电子的特征结合能，从而对各类材料在多种形态下（包括粉末、薄膜、纤维、块体等）的表面几个原子层（表面1~10纳米）进行分析与表征，获得除H、He以外的元素组成、化学价态、深度分布、成像以及电子状态等信息。

仪器位置：

54- E107

型号：

ESCALAB Xi+

厂家：

Thermo Fisher Scientific

微聚焦单色化X射线源：单色化Al阳极靶，能量分辨率≤0.43eV (FWHM Ag3d5/2)，空间分辨率≤20μm；样品表面惰性离子清洁；

深度剖析：薄膜材料和界面分析；

角分辨XPS(ARXPS)：超薄膜的无损伤分析；

反射电子能量损失谱(REELS)：费米能级以上的能带分析，H元素分析；

离子散射谱(ISS)：表面1-2个原子层的元素信息；

真空转移台：对接手套箱分析对空气或水分敏感样品；

准原位反应池：实现高温、气体等环境下的催化反应。

XPS主要用于纳米材料、金属、合金，有机聚合物、催化剂、陶瓷、涂层、玻璃、纤维、半导体、超薄膜、矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、焊接、氧化、晶界偏析等过程的研究，也可以用于机械零件及电子元器件的失效分析，材料表面污染物分析等，广泛应用于催化、能源、化工、地质、纳米技术、法医鉴定等领域。