X射线衍射是特征X射线照射到多晶或粉末固态晶体 样品上时，利用晶体形成的散射空间衍射光栅产生散射 波，散射波互相干涉使散射波的强度在某些方向上加强， 在某些方向上减弱产生衍射。利用X射线衍射仪可对相关 金属和非金属多晶粉末样品物相可以进行定性、定量分 析，也可实现多晶薄膜物相及厚度分析、小角散射、高温 原位测量等功能。
54-E110
X'Pert Pro
马尔文帕纳科
功率：3 kW
光管类型：Cu
测角精度 ：0.001 °
角度重现性：0.0001 °
平行光路入射光发散度：< 0.04 °
1.配置薄膜样品台，能同时满足常规粉末样品分析、
薄膜分析、应力分析，织构分析；
2.奥地利安东帕公司XRK900化学反应器样品台。
