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物镜球差校正透射电子显微镜(AC-TEM)

介绍:

球差校正透射电镜是一种应用于化学工程、材料科 学、物理学、生物学、医学、农学、地质学等学科的分析 仪器,提供形貌、微结构、化学元素等方面的分析与科学 研究。不仅可进行原子级高分辨观察,同时配备了能谱仪 和三维重构样品杆,可进行微区原子级高分辨成分分析和 TEM、STEM和EDS三维重构。

仪器位置:

54-E139-140

型号:

JEM-ARM300F2 WGP

厂家:

JEOL

加速电压:300 KV,200KV,80KV

晶格分辨率:FFT Spot 60 pm (@300 kV)

STEM明场/暗场分辨率:≤192 pm (@300 kV),≤314 pm(@80 kV)

信息分辨率:≤0.08 nm (@300 kV),≤0.13 nm (@80 kV)

能谱分辨率:≤133 eV

数字化成像系统:4K*4K像素

主要附件

双160mm2,超级固体角1.4sr电制冷无窗高分辨能谱仪

高倾转三维重构样品杆

1.冷场电子枪,提供更好的亮度和能量分辨率;大间距极靴距离,更有利于进行原位实验;

2.形貌观察:对各种材料内部微结构进行二维显微形貌观察,包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和层状样品;配合三维重构可以得到三维立体形貌;

3.结构分析:利用选区电子衍射、高分辨透射图像等分析材料的结构;

4.成分分析:可伸缩式超大面积的无窗电制冷能谱,可以对样品元素做点、线、面、体分布分析,可以得到原子分辨率的元素面分布图像。