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加热原位样品杆

介绍:

原位加热样品杆是一种可用于透射电子显微镜的表征 附件,采用芯片式加热,加热源使用化学性能稳定,且透 光性好的SiC材料,最高温度可达1200℃,加热芯片不仅 有SiN支持膜还有C支持膜、无支持膜可选,其中C支持膜 的加热芯片适用于粉体材料,有效降低背底对成像的影 响,无支持膜的加热芯片适用于需要FIB转移的块体样品, 几种加热芯片均可以实现温度稳定情况下的高分辨成像; 同时Protochips双倾加热杆预留了6个电极,后期可以通过 模块升级到热电功能,无需更换样品杆。

仪器位置:

54-E139

型号:

FUSION SELECT

厂家:

Protochips

能兼容JEOL透射电子显微镜

AXON透射电镜实验控制平台

加热温度范围:室温-1200℃

加热速率:≥1000 ℃/ms

温度均匀度:优于99.5%

温度稳定性:< 0.01℃

样品热漂移率:< 0.5 nm/min

倾转角:α≥± 19°,β≥±15° (JEOL UHR极靴)

高温条件下研究材料结构变化对绝缘材料施加温度,避免放电加热后进行EDS分析应用