场发射透射电子显微镜利用高速透射电子成像，可以实现纳米材料的形貌、高分辨晶格像的获得，实现选区电子衍射、纳米束衍射等晶体显微结构的表征，利用STEM模式和EDS能谱仪可以实现元素的定性和半定量微区分析。
54-E102
JEM-2100F
日本电子
加速电压：200 kV
物镜极靴：UHR
点分辨率：0.19 nm
线分辨率：0.14 nm
STEM分辨率：0.20 nm
倾斜角：25°
束斑尺寸：0.5 nm
场发射透射电子显微镜广泛应用于催化剂、金属、矿物、陶瓷、高分子、复合材料等领域，对各种材料内部显微形貌、显微结构进行观察和分析，已成为纳米材料性能和器件研究的重要手段。
