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场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)

介绍:

扫描电镜作为材料微区显微结构观察和成分分析的重要工具,主要是利用电子束在样品表面扫描时激发出来的 物理信号成像来观察样品的表面形态。冷场发射扫描电镜 由于其较小的汇聚电子束和较小的电子能量,具有较高的 分辨率和低电压的性能,能够满足纳米材料高分辨观察的 需求。对金属材料、纳米材料、催化剂、高分子材料等样 品的形貌进行超高分辨观察,并可对样品微观区域成分、结构取向进行定性半定量分析。

仪器位置:

54-E106

型号:

Regulus 8100

厂家:

Hitachi

加速电压减速功能,优良的低加速电压成像能力,1kV分辨率可达0.8nm电子枪内置加热器,物镜光阑具有自清洁功能SE与BSE任意比例搭配功能

二次电子分辨率:0.8nm@15kV,1.1nm@1 kV

加速电压:0.5-30 kV

放大倍率范围:20-800000×

样品倾斜角:-5~+70°

能谱成分检测范围: Be(4)-Pu(94)

对金属材料、纳米材料、催化剂、食品、生物等各个方面样品的形貌进行超高分辨观察,并对样品微观区域成分、结构取向进行定性定量分析。