TEM以极短波长电子束作为照明源，经由聚光镜系统的电磁透镜将其聚焦成一束近似平行的光线穿透样品，再经成像系统的电磁透镜成像和放大，最后投射到荧光屏上形成所观察的图像。可对材料特别是纳米材料内部微结构和粒径进行观察，同时可提供选区电子衍射和晶体结构分析，配合能谱仪可对样品元素做面分布分析，以元素定性和半定量微区分析。广泛用于催化剂、金属、矿物、陶瓷、高分子材料微观形貌、晶体结构、晶体缺陷及成分分析。

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JEM-F200

日本电子